Принципы сканирующей электронной микроскопии (СЭМ)
Для получения трехмерного изображения объекта и изучения топографии его поверхности применяется сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Для получения изображения в просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) используют электроны, проходящие через образец, а в СЭМ - электроны, рассеиваемые или излучаемые (отраженные) поверхностью образца. Принцип работы СЭМ состоит в следующем: электроны, генерируемые электронной пушкой, проходят через систему электромагнитных линз (как и в случае ПЭМ); эти линзы фокусируют пучок электронов - так называемый электронный зонд - на поверхность исследуемого объекта; на своем пути зонд подвергается действию электромагнитных полей, контролируемых генератором развертки, вследствие чего зонд сканирует поверхность объекта. В результате взаимодействия электронного зонда с образцом происходит генерирование различных сигналов (вторичные и упруго рассеянные электроны, рентгеновское излучение, электроны, прошедшие через объект), несущих информацию о нем. С помощью соответствующего детектора сигнал преобразуется в электрический и подается на экран кинескопа или компьютера, на котором возникает изображение поверхности объекта, соответствующее виду детектируемого сигнала. Разрешение современных СЭМ достигает 2 нм. Изображение, как и в ПЭМ, регистрируется на фотопленку либо на цифровой носитель.
Для подавляющего большинства биологических объектов основными этапами подготовки к СЭМ являются: 1) префиксационная обработка; 2) фиксация; 3) обезвоживание и высушивание; 4) обеспечение электропроводности (напыление металлом).
Смотрите также:
